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澳標(biāo)AS/NZS3112...
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硬度計(jì)系列產(chǎn)品
產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹:
可接觸性試驗(yàn)指
目的
確定未絕緣的帶電體是否會(huì)造成對(duì)人身電擊的危害。
設(shè)備
設(shè)備如下:
a) 按IEC 61032下圖所示的11號(hào)圓柱型試驗(yàn)工具。
b) 歐姆表或?qū)y(cè)試儀。
詳情介紹:
可接觸性試驗(yàn)指
目的
確定未絕緣的帶電體是否會(huì)造成對(duì)人身電擊的危害。
設(shè)備
設(shè)備如下:
a) 按IEC 61032下圖所示的11號(hào)圓柱型試驗(yàn)工具。
b) 歐姆表或?qū)y(cè)試儀。
程序
試驗(yàn)程序如下:
a) 根據(jù)制造商推薦的方法安裝組件并進(jìn)行連線(xiàn);
b) 將歐姆表或?qū)y(cè)試儀與組件電路連接,并連接到試驗(yàn)工具上;
c) 移去組件上所有不用工具就可去掉的覆蓋物、插頭和連接器等的部分;
d) 試驗(yàn)工具在所有的電連接器、插頭、接線(xiàn)盒以及組件電路可達(dá)到的任何區(qū)域,用試驗(yàn)工具進(jìn)行探測(cè);
e) 在探測(cè)期間監(jiān)視歐姆表或?qū)y(cè)試儀以確定試驗(yàn)裝置與組件電路是否有電接觸。
*終測(cè)試
無(wú)。
要求
試驗(yàn)過(guò)程中試驗(yàn)工具和組件電路之間的電阻不允許低于1M?。
合格判據(jù)
試驗(yàn)過(guò)程中試驗(yàn)工具在任何時(shí)刻都不允許與任何帶電體接觸。
本試驗(yàn)在IEC 61730:2-2004圖1所示的試驗(yàn)順序的開(kāi)始和結(jié)束時(shí)進(jìn)行,但是如果有理由認(rèn)為某一試驗(yàn)會(huì)造成帶電體裸露,本試驗(yàn)可在試驗(yàn)順序中的任何時(shí)刻加試。
目的
確定未絕緣的帶電體是否會(huì)造成對(duì)人身電擊的危害。
設(shè)備
設(shè)備如下:
a) 按IEC 61032下圖所示的11號(hào)圓柱型試驗(yàn)工具。
b) 歐姆表或?qū)y(cè)試儀。
程序
試驗(yàn)程序如下:
a) 根據(jù)制造商推薦的方法安裝組件并進(jìn)行連線(xiàn);
b) 將歐姆表或?qū)y(cè)試儀與組件電路連接,并連接到試驗(yàn)工具上;
c) 移去組件上所有不用工具就可去掉的覆蓋物、插頭和連接器等的部分;
d) 試驗(yàn)工具在所有的電連接器、插頭、接線(xiàn)盒以及組件電路可達(dá)到的任何區(qū)域,用試驗(yàn)工具進(jìn)行探測(cè);
e) 在探測(cè)期間監(jiān)視歐姆表或?qū)y(cè)試儀以確定試驗(yàn)裝置與組件電路是否有電接觸。
*終測(cè)試
無(wú)。
要求
試驗(yàn)過(guò)程中試驗(yàn)工具和組件電路之間的電阻不允許低于1M?。
合格判據(jù)
試驗(yàn)過(guò)程中試驗(yàn)工具在任何時(shí)刻都不允許與任何帶電體接觸。
本試驗(yàn)在IEC 61730:2-2004圖1所示的試驗(yàn)順序的開(kāi)始和結(jié)束時(shí)進(jìn)行,但是如果有理由認(rèn)為某一試驗(yàn)會(huì)造成帶電體裸露,本試驗(yàn)可在試驗(yàn)順序中的任何時(shí)刻加試。
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